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據(jù)宣傳部2023年5月9日?qǐng)?bào)道，@超聲掃描顯微鏡系列和伍超聲探傷儀C400產(chǎn)品咨詢，技術(shù)參數(shù)，購(gòu)買指南！

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產(chǎn)品概述:

超聲掃描顯微鏡（SAT）是一種利用超聲波為傳播媒介的無(wú)損檢測(cè)成像設(shè)備，主要利用高頻超聲波，對(duì)各類半導(dǎo)體器件、材料進(jìn)行檢測(cè)，能夠檢測(cè)出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷，并以圖形的方式直觀展示。在掃描過(guò)程中，不會(huì)對(duì)樣品造成損傷，不會(huì)影響樣品性能，可有效滿足新能源、半導(dǎo)體、電力電子、熱管理材料、金剛石復(fù)合材料、碳纖維復(fù)合材料等行業(yè)需求。

產(chǎn)品特點(diǎn):

1、 具備A（點(diǎn)掃描）、B（縱向掃描）、C（橫向掃描），Tray-托盤(pán)掃描等系列掃描模式。

2、 具備定量測(cè)分析功能，以圖像方式直觀顯示被測(cè)件內(nèi)部缺陷的位置、形狀和大小，并進(jìn)行缺陷的尺寸和面積統(tǒng)計(jì)，自動(dòng)計(jì)算缺陷占所測(cè)量面積的百分比；具備缺陷尺寸標(biāo)識(shí)；厚度與測(cè)距等功能。

3、 適用于單個(gè)器件的快速掃描分析，也可批量放置樣品同步進(jìn)行缺陷識(shí)別，快速篩選出不合格品。

4、 可兼容1~25MHz的超聲探頭。

5、 檢測(cè)軟件自主研發(fā)，中英文界面，可根據(jù)客戶需求對(duì)功能進(jìn)行持續(xù)升級(jí)。